GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法

标准编号：GB/T 1552-1995

标准名称：硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法

英文名称：Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon and germanium with a collinear four-probe array

发布日期：1995-04-18

实施日期：1995-12-01

起草单位

上海有色金属研究所

适用范围