SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法

标准编号：SJ/T 11703-2018

标准名称：数字微电子器件封装的串扰特性测试方法

发布日期：2018-02-09

实施日期：2018-04-01

起草人

王琪、张崤君、贾松良 等

起草单位

中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学等

适用范围

本标准规定了在数字微电子器件封装引出端之间，测试宽带数字信号和噪声交叉耦合水平的方法。

本标准适用于数字微电子器件封装。当驱动和负载阻抗已知时，适用于多种逻辑系列产品。