SJ/T 11704-2018 微电子封装的数字信号传输特性测试方法

标准编号：SJ/T 11704-2018

标准名称：微电子封装的数字信号传输特性测试方法

发布日期：2018-02-09

实施日期：2018-04-01

起草人

王琪、张崤君、贾松良 等

起草单位

中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学等

适用范围

本标准规定了高频数字微电子封装中传输线的特性阻抗、传输延迟时间、负载电容、负载电感、直流串联电阻的测试方法。

本标准适用于高频数字微电子封装。