GB/T 30118-2026 声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法

标准编号：GB/T 30118-2026

代替了下列标准：GB/T 30118-2013

标准名称：声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法

英文名称：Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications—Specifications and measuring methods

发布日期：2026-08-28

实施日期：2027-03-01

起草人

石自彬、贝伟斌、徐秋峰、朱中晓

中国电子科技集团公司第二十六研究所、天通控股股份有限公司、中电科技德清华莹电子有限公司、北京石晶光电科技股份有限公司

本文件界定了人造石英、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片的术语，规定了技术要求和抽样方案，描述了相关检验及测量方法。

本文件适用于用作声表面波（SAW）滤波器和谐振器基片材料的单晶晶片,包含人造石英、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等。