GB/T 20521.12-2026 半导体器件 第14-12部分：半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法

标准编号：GB/T 20521.12-2026

标准名称：半导体器件 第14-12部分：半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法

英文名称：Semiconductor devices—Part 14-12: Semiconductor sensors—Performance test methods for CMOS imager-based gas sensors

发布日期：2026-08-28

实施日期：2027-03-01

起草人

王镝、崔瑶轩、朱贺、李振廷、钟鑫、孙志学、吴海、刘秀娟、王亚飞、曾勇刚、徐卫锋、时学瑞、杨军超、蔡壮钦、曹耀龙、张建锋、王忠新、张芬妮、吴德华、徐英莹、沈文锋、刘彩霞、黄永锋、班茜茜、李金鹏、周小华

起草单位

之江实验室、德玛克（浙江）精工科技有限公司、山东华光光电子股份有限公司、浙江大学、中国电子技术标准化研究院、公安部第三研究所、中绍宣科技集团有限公司、深圳市海曼科技股份有限公司、珠海芯曜工研科技有限公司、北京博视像元科技有限公司、浙江迈镝生物科技有限公司、国科大杭州高等研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国计量科学研究院、浙江大学医学院附属邵逸夫医院、中科微感（宁波）科技有限公司、长沙钛合电子设备有限公司、河南驰诚电气股份有限公司、深圳市瑞之辰科技有限公司、深圳市斯科尔科技股份有限公司

适用范围

本文件描述了基于互补金属氧化物半导体（CMOS）成像的气体传感器的性能测试方法。

本文件适用于基于CMOS无透镜成像和基于CMOS透镜成像的气体传感器的性能测试。