GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法

标准编号：GB/T 1551-1995

标准名称：硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法

英文名称：Test method for resistivity of silicon and germanium bars using a two-point probe

发布日期：1995-04-18

实施日期：1995-12-01

起草单位

上海有色金属工业总公司

适用范围