GB/T 6619-1995 硅片弯曲度测试方法

标准编号：GB/T 6619-1995

标准名称：硅片弯曲度测试方法

英文名称：Test methods for bow of silicon slices

发布日期：1995-04-18

实施日期：1995-12-01

起草单位

洛阳单晶硅厂

适用范围