GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定

标准编号：GB/T 5594.8-1985

标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定

英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure

发布日期：1985-11-27

实施日期：1986-12-01

起草单位

上海科技大学

适用范围

本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。