GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法

标准编号：GB/T 5594.2-1985

标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法

英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio

发布日期：1985-11-27

实施日期：1986-12-01

起草单位

天津大学

适用范围

本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量和泊松比的测量。