行业标准
- SJ/T 10175-1991 半导体集成电路多层陶瓷双列直插外壳详细规范
- SJ/T 10180-1991 金属橡胶型隔振器总规范
- SJ/T 10198-1991 TJ2220微型化超级小型计算机
- SJ/T 10231-1991 300bit/s有线话带调制解调器技术要求
- SJ/T 10171.10-1991 碱性蓄电池隔膜性能测试方法 隔膜最大孔直径的测定 气泡试验法
- SJ/T 10181-1991 橡胶型隔振器总规范
- SJ/T 10222-1991 铝电解电容器制造质量控制要点
- SJ/T 10189-1991 机载奥米加接收设备性能要求和试验方法
- SJ/T 10223-1991 钽电解电容器制造质量控制要点
- SJ/T 10190-1991 机械无线罗盘性能要求测量方法
- SJ/T 10241-1991 CBB12型金属箔式聚丙烯介质直流固定电容器详细规范
- SJ/T 10204-1991 长城0520AC--H微型数字电子计算机技术条件
- SJ/T 10238-1991 XZ-8型噪声信号发生器
- SJ/T 10220-1991 显象管制造质量控制要点(适用于黑白显象管)
- SJ/T 10234-1991 QF4031型频谱分析仪
- SJ/T 10233-1991 1200bit/s有线话带调制解调器技术要求
- SJ/T 10243-1991 微波集成电路用氧化铝陶瓷基片
- SJ/T 10179-1991 金属隔振器总规范
- SJ/T 10214-1991 微波铁氧体材料退磁态磁导率的测量方法
- SJ/T 10229-1991 XJ4810半导体管特性图示仪
- SJ/T 10171.11-1991 碱性蓄电池隔膜性能测试方法 隔膜铜、铁含量的测定 原子吸收分光光度法
- SJ/T 10216-1991 磁性氧化物粉末振实密度的测定
- SJ/T 10230-1991 ZN4112型低失真度测量仪
- SJ/T 10174-1991 A1.5稳态太阳模拟器
- SJ/T 10187-1991 Y73型系列温度变化试验箱一一一箱式
- SJ/T 10221-1991 电子元器件制造质量控制指南
- SJ/T 10202-1991 CCD彩色单板应用电视摄像机总技术条件
- SJ/T 10245-1991 复合微波介质基片
- SJ/T 10207-1991 空中交通管制超短波地空通信发射机性能要求和测量方法
- SJ/T 10215-1991 磁性氧化物粉末松装密度的测定-振动漏斗法