国家标准
- GB/T 13667.4-2003 电动密集书架技术条件
- GB/T 4182-2003 钼丝
- GB/T 18310.8-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-8部分:试验 碰撞
- GB/T 18310.10-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-10部分:试验 抗挤压
- GB/T 18310.11-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-11部分:试验 轴向挤压
- GB/T 18910.2-2003 液晶和固态显示器件 第2部分:液晶显示模块分规范
- GB/T 12113-2003 接触电流和保护导体电流的测量方法
- GB/T 5993-2003 电子设备用固定电容器 第4部分:分规范 固体和非固体电解质铝电容器
- GB/T 5729-2003 电子设备用固定电阻器 第1部分:总规范
- GB/T 7424.1-2003 光缆总规范 第1部分:总则
- GB/T 7214-2003 电子设备用固定电容器 第15-3部分:空白详细规范 固体电解质和多孔阳极钽电容器 评定水平 E
- GB/T 7213-2003 电子设备用固定电容器 第15部分:分规范 非固体或固体电解质钽电容器
- GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
- GB/T 17574.10-2003 半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器空白详细规范
- GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
- GB/T 7424.4-2003 光缆 第4-1部分:分规范 光纤复合架空地线
- GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性
- GB/T 18794.5-2003 信息技术 开放系统互连 开放系统安全框架 第5部分:机密性框架
- GB/T 18794.4-2003 信息技术 开放系统互连 开放系统安全框架 第4部分:抗抵赖框架
- GB/T 2423.52-2003 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验77:结构强度与撞击
- GB/T 18794.7-2003 信息技术 开放系统互连 开放系统安全框架 第7部分:安全审计和报警框架
- GB/T 19404-2003 微波铁氧体器件主要性能测量方法
- GB/T 19247.4-2003 印制板组装 第4部分:分规范 引出端焊接组装的要求
- GB/T 19247.3-2003 印制板组装 第3部分:分规范 通孔安装焊接组装的要求
- GB/T 18310.9-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-9部分:试验 冲击
- GB/T 18311.34-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-34部分:检查和测量 随机配接连接器的衰减
- GB/T 14258-2003 信息技术 自动识别与数据采集技术 条码符号印制质量的检验
- GB/T 18310.17-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-17部分:试验 低温
- GB/T 18310.42-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-42部分:试验 连接器的静态端部负荷
- GB/T 18310.26-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-26部分:试验 盐雾