DB51/T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范

标准编号：DB51/T 3207-2024

标准名称：集成电路测试用微波探针应用规范

发布日期：2024-12-03

实施日期：2024-12-29

起草人

刘福涵、冯楠轩、王慧丽、张芦、高春燕、丁敬垒、李晓宇、张志红、高晓琴、肖佳琪

起草单位

中国电子科技集团公司第九研究所

适用范围

本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。

本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。