GB/T 12604.10-2023 无损检测术语第10部分：磁记忆检测

标准编号：GB/T 12604.10-2023

代替了下列标准：GB/T 12604.10-2011

标准名称：无损检测术语第10部分：磁记忆检测

英文名称：Non-destructive testing—Terminology—Part 10：Magnetic memory testing

发布日期：2023-05-23

实施日期：2023-05-23

起草人

林俊明、沈功田、丁杰、宋凯、黄凤英、曾志伟、蔡桂喜、胡先龙、董世运、黄松岭、胡斌、戴永红

爱德森（厦门）电子有限公司、中国特种设备检测研究院、国家能源集团科学技术研究院、中国铁道科学研究院集团有限公司金属及化学研究所、清华大学、上海材料研究所有限公司、中国科学院金属研究所、南昌航空大学、中国人民解放军陆军装甲兵学院、厦门大学

本文件界定了用于金属磁记忆检测的术语。

本文件适用于金属磁记忆检测。