GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法

标准编号：GB/T 42838-2023

标准名称：半导体集成电路 霍尔电路测试方法

英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit

发布日期：2023-08-06

实施日期：2023-12-01

起草人

尹航、刘芳、张帆、刘德广、何万海、唐食明

起草单位

中国电子技术标准化研究院、合肥美菱物联科技有限公司、东莞市国梦电机有限公司、南京中旭电子科技有限公司、北京微电子技术研究所

适用范围

本文件规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。

本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。