GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

标准编号：GB/T 20724-2021

代替了下列标准：GB/T 20724-2006

标准名称：微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

英文名称：Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction

发布日期：2021-12-31

实施日期：2022-07-01

起草人

柳得橹、娄艳芝

起草单位

北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院

适用范围

本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。

本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。