DB34/T 3770-2020 用于超导磁体系统的复合材料绝缘子电学测试测试方法

标准编号：DB34/T 3770-2020

标准名称：用于超导磁体系统的复合材料绝缘子电学测试测试方法

发布日期：2020-11-27

实施日期：2020-12-27

适用范围