SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法

标准编号：SJ/T 11767-2020

标准名称：二极管低频噪声参数测试方法

发布日期：2020-12-09

实施日期：2021-04-01

起草人

余永涛、胡为、恩云飞 等

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等

适用范围

适用于二极管1 Hz～300 kHz 频率范围内的噪声参数的测试