SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

标准编号：SJ/T 11706-2018

标准名称：半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

发布日期：2018-02-09

实施日期：2018-04-01

起草人

刘芳、尹航、胡海涛 等

起草单位

中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等

适用范围

本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列（Field Programmable Gate Array，以下简称FPGA）的电参数测试方法。