YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

标准编号：YS/T 1160-2016

标准名称：工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

发布日期：2016-07-11

实施日期：2017-01-01

适用范围

本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。

本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围为≥1%。