SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则

标准编号：SJ/T 2658.1-2015

代替了下列标准：SJ/T 2658.1-1986

标准名称：半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则

发布日期：2015-10-10

实施日期：2016-04-01

起草人

张戈、赵英

起草单位

工业和信息化部电子工业标准化研究院

适用范围

本部分规规定了对半导体红外发射二极管进行光电参数测量的一般要求，包括测试仪表的误差范围、电源的性能要求以及测试环境条件。