SJ/T 2658.7-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第7部分：辐射通量

标准编号：SJ/T 2658.7-2015

代替了下列标准：SJ/T 2658.7-1986

标准名称：半导体红外发射二极管测量方法 第7部分：辐射通量

发布日期：2015-10-10

实施日期：2016-04-01

起草人

张戈、赵英

起草单位

工业和信息化部电子工业标准化研究院

适用范围

本部分规定了半导体红外发射二极管辐射通量的测量原理图、测量步骤以及规定条件。