JB/T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法

标准编号：JB/T 8268-2015

代替了下列标准：JB/T 8268-1999

标准名称：静电复印光导体表面缺陷测量方法

发布日期：2015-04-30

实施日期：2015-10-01

适用范围

本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告。 本标准适用于静电复印（打印、传真、多功能）设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。