SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法

标准编号：SJ/T 2214-2015

代替了下列标准：SJ/T 2214.1～ 2214.10-1982

标准名称：半导体光电二极管和光电晶体管测试方法

发布日期：2015-04-30

实施日期：2015-10-01

起草人

郭萍、王波、崔大键

起草单位

中电子科技集团公第四十四研究所

适用范围

本标准规定了半导体光电二极管和光电晶体管（以下简称“器件”）光电参数的测试方法。 本标准适用于半导体光电二极管和光电晶体管光电参数的测试。 本标准不适用PIN、雪崩光电二极管的测试。