SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

标准编号：SJ/T 11394-2009

代替了下列标准：SJ/T 2355.1～2355.7-1983

标准名称：半导体发光二极管测试方法

发布日期：2009-11-17

实施日期：2010-01-01

起草人

鲍超

起草单位

中国光学光电子行业协会光电器件分会

适用范围

主要规定了半导体发光二极管电特性测试方法、光特性测试方法、光电特性测试方法、颜色特性测试方法、热学特性测试方法和静电放电敏感性测试方法等。