SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法

标准编号：SJ/T 11399-2009

标准名称：半导体发光二极管芯片测试方法

发布日期：2009-11-17

实施日期：2010-01-01

起草人

鲍超、胡爱华

起草单位

中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等

适用范围

主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。