JB/T 10875-2008 发光二极管光学性能测试方法

标准编号：JB/T 10875-2008

标准名称：发光二极管光学性能测试方法

发布日期：2008-06-04

实施日期：2008-11-01

起草人

庄松林、杨卫桥

起草单位

上海理工大学、上海半导体照明工程技术研究中心等

适用范围

本标准规定了在额定电流工作条件下的半导体发光二极管(以下简称LED器件)光学性能测试方法。 本标准适用于单色可见光、白光LED器件光学性能测试，组件和功率器件的光学性能测试参照执行。 本标准是一种推荐性的测试方法，只要达到同样的测量目的，也可采用其他的测试方法。