JB/T 5533-2007 静电复印硒鼓 膜层附着力试验方法

标准编号：JB/T 5533-2007

代替了下列标准：JB/T 5533-1991

标准名称：静电复印硒鼓 膜层附着力试验方法

发布日期：2007-10-08

实施日期：2008-03-01

起草人

赵晓东、唐云山

起草单位

天津复印技术研究所

适用范围

本标准规定了静电复印硒鼓膜层附着力试验方法，其中包括：原理、设备、试样、实验步骤和实验报告。本标准适用于Se，Se-Te及Ae2Se3等类型硒鼓。