HG/T 3241-2007 电脑内孔膜层测厚仪

标准编号：HG/T 3241-2007

代替了下列标准：HG/T 3241-1989

标准名称：电脑内孔膜层测厚仪

发布日期：2007-09-22

实施日期：2008-04-01

起草人

刘连福、沙庆谦

山东省济宁是超声电子仪器厂、天华化工机械及自动化研究设计院

本标准规定了电池供电的电脑内孔膜层测厚仪的型式、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存等内容。本标准适用于根据电磁感应原理对以磁性材料为基体的内孔膜层厚度进行测量的测厚仪。