QB/T 1135-2006 首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法

标准编号：QB/T 1135-2006

代替了下列标准：QB/T 1135-1991

标准名称：首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法

发布日期：2006-08-19

实施日期：2006-12-01

起草人

范积芳、李素青 等

起草单位

国家首饰质量监督检验中心

适用范围

本标准规定了用X射线荧光光谱法测量首饰金、银覆盖层厚度的方法。本标准适用于首饰及其他工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定（覆盖层与基体为非相同材质）。