SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

标准编号：SJ/T 10741-2000

代替了下列标准：SJ/T 10741-1996

标准名称：半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

发布日期：2000-12-28

实施日期：2001-03-01

适用范围

本标准规定了半导体集成电路CMOS电路电特性测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路CMOS电路电特性的测试。