JB/T 9495.2-1999 光学晶体折射率测量方法

标准编号：JB/T 9495.2-1999

代替了下列标准：ZB N05 001.2-1986

标准名称：光学晶体折射率测量方法

发布日期：1999-08-06

实施日期：2000-01-01

适用范围

u3000u3000本标准适用于利用V棱镜方法测量光学晶体的折射率。测量谱线为d，D，C，F，r，e，g，h八种谱线，测量精度：x0b△n=±3×10^(-5)。