JB/T 9495.7-1999 光学晶体光学均匀性测量方法

标准编号：JB/T 9495.7-1999

代替了下列标准：ZB N05 001.7-1986

标准名称：光学晶体光学均匀性测量方法

发布日期：1999-08-06

实施日期：2000-01-01

适用范围

本标准适用于直径不大于200mm的光学晶体光学均匀性的测量。测量折射率微差的精度为：△η=±1×10^(-6)。