GB/T 15394-2026 多探针测试台通用技术条件

标准编号：GB/T 15394-2026

代替了下列标准：GB/T 15394-1994

标准名称：多探针测试台通用技术条件

英文名称：General specification for probe tester

发布日期：2026-08-28

实施日期：2027-03-01

起草人

段成龙、杨晓静、赵俊莎、吕磊、周豪、宋伟峰、史泽远、邢莹、张宝帅、宋子凯、吴贵阳、申世鹏、曹可慰、刘海滨、王伟、吴怡然、华长春、王超、李扬、吴浩、王胜利、雷迪

三河建华高科有限责任公司、中国电子技术标准化研究院、燕山大学、雯澜新(上海)半导体科技有限公司、多场低温科技（北京）有限公司、中国电子科技集团公司第45研究所、北京工业大学、昆山迈致治具科技有限公司、矽电半导体设备（深圳）股份有限公司

本文件界定了多探针测试台（以下简称“探针台”）的术语和定义，规定了技术要求、检验规则、标志、包装、运输和贮存等要求，描述了相应的试验方法。

本文件适用于手动、半自动、全自动多探针测试台的设计、生产、检验和验收。