GB/T 47239.8-2026 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分：柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法

标准编号：GB/T 47239.8-2026

标准名称：半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分：柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法

英文名称：Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 8: Test method for stretchability, flexibility and stability of flexible resistive memory

发布日期：2026-02-27

实施日期：2026-09-01

起草人

沈磊、孙建军、王明、时拓、张丽静、俞剑、刘山佳、崔波、陈海蓉

起草单位

上海复旦微电子集团股份有限公司、之江实验室、复旦大学、中国电子科技集团公司第十三研究所

适用范围

本文件描述了用于评价柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性的术语和测试方法，包括试验流程和所用设备。本文件还包括环境温度和相对湿度等测试条件的通用要求。

本文件中描述的测试方法侧重于评价稳定性，而不是可靠性。