GB/T 4937.9-2026 半导体器件机械和气候试验方法第9部分：标志耐久性

标准编号：GB/T 4937.9-2026

标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第9部分：标志耐久性

英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 9：Permanence of marking

发布日期：2026-02-27

实施日期：2026-09-01

起草人

王琪、李博、马睿彤、席善斌、吕栋、高见头、张娜、虞勇坚、尹丽晶

中国电子技术标准化研究院、河北北芯半导体科技有限公司、中国科学院微电子研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所

本文件的目的是确定固态半导体器件上的标志，在涂抹和去除标签、或使用溶剂和清洗液(通常用于去除印刷电路板制造过程中的焊剂残留)后是否仍清晰。

本文件适用于所有封装类型，用于鉴定和/或工艺监控。本试验是非破坏性的，电气或机械损伤能作为本试验的判据。

许多可用的溶剂或活性不够，或管控严格，或在直接接触或吸入烟雾时对人类有危险。