GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法

标准编号:GB/T 14028-2018

代替了下列标准:GB/T 14028-1992

标准名称:半导体集成电路 模拟开关测试方法

英文名称:Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch

发布日期:2018-03-15

实施日期:2018-08-01

起草人

张冰、李雷、朱华、黄德东、陈志培、闫辉

起草单位

中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、西北工业大学、圣邦微电子股份有限公司

适用范围

本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下称为器件)参数测试方法。

本标准适用于半导体集成电路模拟开关,也适用于多路转换器参数的测试。

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