GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
标准编号：GB/T 14028-2018
代替了下列标准：GB/T 14028-1992
标准名称：半导体集成电路 模拟开关测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
起草人
张冰、李雷、朱华、黄德东、陈志培、闫辉
起草单位
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、西北工业大学、圣邦微电子股份有限公司
适用范围
本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关（以下称为器件）参数测试方法。
本标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。
