GB/T 35006-2018 半导体集成电路电平转换器测试方法

标准编号：GB/T 35006-2018

标准名称：半导体集成电路电平转换器测试方法

英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter

发布日期：2018-03-15

实施日期：2018-08-01

起草人

宦承永、邬海忠、王小强、罗彬、陆坚、魏军

深圳市国微电子有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所、成都振芯科技股份有限公司

本标准规定了半导体集成电路电平转换器（以下称为器件）功能、静态参数和动态参数的测试方法。

本标准适用于半导体集成电路电平转换器功能、静态参数和动态参数的测试。