DIN 50442-1:1981-02 Testing of semi-conductive inorganic materials; determination of the surface structure of circular monocrystalline semi-conductive slices; as-cut and lapped slices

标准编号：DIN 50442-1:1981-02

英文标题：Testing of semi-conductive inorganic materials; determination of the surface structure of circular monocrystalline semi-conductive slices; as-cut and lapped slices

德文标题：Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Bestimmung der Oberflächenstruktur kreisförmiger, einkristalliner Halbleiterscheiben; Gesägte und geläppte Scheiben

发布日期：1981-02

标准预览图