DIN 50456-2:1995-04 Testing of materials for semiconductor technology - Method for the characterisation of moulding compounds for electronic components - Part 2: Determination of ionic impurities using pressure cooker test

标准编号：DIN 50456-2:1995-04

英文标题：Testing of materials for semiconductor technology - Method for the characterisation of moulding compounds for electronic components - Part 2: Determination of ionic impurities using pressure cooker test

德文标题：Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Umhüllungspressmassen für elektronische Bauelemente - Teil 2: Bestimmung ionischer Verunreinigungen mittels Druckextraktions-Verfahren

发布日期：1995-04

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