DIN 50439:1982-10 Testing of materials for semiconductor technology; determination of the dopant concentration profile of single crystalline semiconductor material by means of the capacitancevoltage method and mercury contact

标准编号：DIN 50439:1982-10

英文标题：Testing of materials for semiconductor technology; determination of the dopant concentration profile of single crystalline semiconductor material by means of the capacitancevoltage method and mercury contact

德文标题：Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung des Dotierungsprofiles von einkristallinem Halbleitermaterial mit der Kapazitäts-Spannungs-Methode und Quecksilberkontakt

发布日期：1982-10

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