DIN 50441-1:1996-07 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 1: Thickness and thickness variation

标准编号：DIN 50441-1:1996-07

英文标题：Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 1: Thickness and thickness variation

德文标题：Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Messung der geometrischen Dimensionen von Halbleiterscheiben - Teil 1: Dicke und Dickenvariation

发布日期：1996-07

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