DIN 50438-2:1982-08 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurty content in silicon by infrared absorption; carbon

标准编号：DIN 50438-2:1982-08

英文标题：Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurty content in silicon by infrared absorption; carbon

德文标题：Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung des Verunreinigungsgehaltes in Silicium mittels Infrarot-Absorption; Kohlenstoff

发布日期：1982-08

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