DIN 50443-2:1994-06 Testing of materials for semiconductor technology; recognition of defects and inhomogeneities in semiconductor single crystals by X-ray topography; III-V-semiconductor compounds

标准编号：DIN 50443-2:1994-06

英文标题：Testing of materials for semiconductor technology; recognition of defects and inhomogeneities in semiconductor single crystals by X-ray topography; III-V-semiconductor compounds

德文标题：Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Nachweis von Kristalldefekten und Inhomogenitäten in Halbleiter-Einkristallen mittels Röntgentopographie; III-V-Verbindungshalbleiter

发布日期：1994-06

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