DIN 50449-1:1997-07 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurity content in semiconductors by infrared absorption - Part 1: Carbon in gallium arsenide

标准编号：DIN 50449-1:1997-07

英文标题：Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurity content in semiconductors by infrared absorption - Part 1: Carbon in gallium arsenide

德文标题：Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung des Verunreinigungsgehaltes in III-V-Verbindungshalbleitern mittels Infrarotabsorption - Teil 1: Kohlenstoff in Galliumarsenid

发布日期：1997-07

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