DIN 50449-2:1998-01 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurity content in semiconductors by infrared absorption - Part 2: Boron in gallium arsenide

标准编号：DIN 50449-2:1998-01

英文标题：Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurity content in semiconductors by infrared absorption - Part 2: Boron in gallium arsenide

德文标题：Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung des Verunreinigungsgehaltes in III-V-Verbindungshalbleitern mittels Infrarotabsorption - Teil 2: Bor in Galliumarsenid

发布日期：1998-01

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