DIN EN 60749-5:2018-01 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017); German version EN 60749-5:2017

标准编号：DIN EN 60749-5:2018-01

英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017); German version EN 60749-5:2017

德文标题：Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2017); Deutsche Fassung EN 60749-5:2017

发布日期：2018-01

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