GB/Z 119-2026 晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测

标准编号：GB/Z 119-2026

标准名称：晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测

英文名称：C-Si photovoltaic(PV) modules—Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test—Detection

发布日期：2026-01-04

实施日期：2026-01-04

起草人

许涛、庄天奇、李振国、裴会川、刘亚锋、徐敏伟、葛华云、黄婷、郭素琴、冯春暖、陈磊

起草单位

常熟阿特斯阳光电力科技有限公司、中国科学院微电子研究所、隆基绿能科技股份有限公司、上海电气集团股份有限公司、中国电子技术标准化研究院、阿特斯阳光电力集团股份有限公司、东方日升新能源股份有限公司、浙江鉴衡检测技术有限公司

适用范围

本文件描述了晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）的试验方法，包括仪器装置、样品准备、测试步骤、结果处理和报告内容等。

本文件适用于晶体硅光伏组件，用于揭示样品对 LETID 衰减机制的敏感性，但不能精确测量其在户外实际的衰减情况。户外衰减的程度和时间尺度取决于所处气候和组件技术。