GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法

标准编号：GB/T 5594.8-2015

代替了下列标准：GB/T 5594.8-1985

标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法

英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8: Test method for microstructure

发布日期：2015-05-15

实施日期：2016-01-01

起草人

江树儒、曹易、高永泉、翟文斌

中国电子科技集团公司第十二研究所、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司、中国电子技术标准化研究院

GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。