GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

标准编号：GB/T 14849.5-2014

代替了下列标准：GB/T 14849.5-2010

标准名称：工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

英文名称：Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 5：Determination of impurity contents―X-ray fluorescence method

发布日期：2014-12-05

实施日期：2015-05-01

起草人

刘英波、赵德平、杨毅、杨海岸、周杰

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GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，测定范围见表1。