GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检

标准编号：GB/T 4937.3-2012

标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination

发布日期：2012-11-05

实施日期：2013-02-15

起草人

陈海蓉、李丽霞、崔波

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所

适用范围

GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。